中央大学 理工学部 電気電子情報通信工学科
 中央大学 大学院理工学研究科 電気電子情報通信工学専攻 竹内研究室

TOPICS
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2008年度
2016年度
17/03/05 9/12-15 アメリカ カリフォルニア州 サンタクララで開催される IEEE International Symposium on Quality Electronic Design において1件の論文を発表します。
  • Kota Tsurumi, Masahiro Tanaka and Ken Takeuchi
    “0.6 V operation, 16 % Faster Set/Reset ReRAM Boost Converter with Adaptive Buffer Voltage for ReRAM and NAND Flash Hybrid Solid-State Drives”

  • 3/12-14 アメリカ カリフォルニア州 サンディエゴで開催される Non-Volatile Memory Workshop において2件の論文を発表します。
  • Hirofumi Takishita, Yutaka Adachi and Ken Takeuchi
    “ReRAM-based SSD Performance Considering Verify-program Cycles and ECC Capabilities”
  • Toshiki Nakamura, Yoshiaki Deguchi, Atsuro Kobayashi and Ken Takeuchi
    “Heterogeneous-Integrated LDPC ECC of TLC NAND Flash Memory for Read-Hot&Cold Mixed Data Storage”
  • 16/10/20 ハフィントンポストに「 実はいいことづくし。 これからの時代に「女子が理工系に進むべき」7つの理由 」が掲載されました。
    16/10/20 11/28-30 立命館大学 大阪いばらきキャンパスで開催される デザインガイア2016 -VLSI設計の新しい大地- において2件の論文を発表します。
  • 松井千尋・山賀祐典・杉山佑輔・竹内 健(中大)
    “半導体ストレージシステムにおけるSCM, MLC/TLC NANDフラッシュメモリの最適な構成の設計”
  • 鶴見洸太・田中誠大・竹内 健(中大)
    “IoTデバイス向けReRAM書き込み電圧生成回路の低電圧化およびコンパレータ回路のバイアス電流最適化手法”
  • 16/09/04 9/26-29 筑波 つくば国際会議場で開催される International Conference on Solid State Devices and Materials(SSDM) において2件の論文を発表します。
  • Chihiro Matsui, Yusuke Yamaga, Yusuke Sugiyama and Ken Takeuchi
    “8.9-times Performance Improvement by Tri-Hybrid Storage System with SCM and MLC/TLC NAND Flash Memory”
  • Yoshiaki Deguchi, Atsuro Kobayashi and Ken Takeuchi
    “47% Data-Retention Error Reduction of TLC NAND Flash Memory by Introducing Stress Relaxation Period with Round-Robin Wearleveling”
  • 9/12-15 スイス ローザンヌで開催される ESSCIRC-ESSDERC において1件の論文を発表します。
  • Masahiro Tanaka, Kota Tsurumi, Tomoya Ishii and Ken Takeuchi
    “Heterogeneously Integrated Program Voltage Generator for 1.0V Operation NAND Flash with Best Mix & Match of Standard CMOS Process and NAND Flash Process ”
  • 16/08/24 日経テクノロジーOnlineのコラムに「 エンジニアは専門家を目指すべきか? IoTの時代では多様な経験こそが武器になる 」が掲載されました。
    16/06/14 プレスリリースを行いました。
    メモリに記憶されるデータの特徴を判別して TLC フラッシュメモリの読み出し方法を最適化~読み出し可能回数が 6.7 倍に増加~クラウドデータセンタ記憶媒体への展開に期待
    16/06/14 日経テクノロジーOnlineに「 TLCフラッシュメモリーをデータセンターに 」が掲載されました。
    16/06/01 研究室のメンバー(People)を更新しました。
    16/05/16 プレスリリースを行いました。
    IoT のリアルタイムデータ処理に向けた、 高速フラッシュストレージ ~アプリケーションや書き換え回数に応じた動的な誤り訂正回路の 最適化により、最大 3 倍のデータ処理スピードの高速化に成功~
    16/04/17 6/13-17 ホノルル ヒルトン・ハワイアン・ビレッジで開催される IEEE Symposium on VLSI Technologies において1件の論文を発表します。
  • Atsuro Kobayashi, Tsukasa Tokutomi and Ken Takeuchi
    “Versatile TLC NAND Flash Memory Control to Reduce Read Disturb Errors by 85% and Extend Read Cycles by 6.7-times of Read-Hot and Cold Data for Cloud Data Centers”

  • 6/12-13 ホノルル ヒルトン・ハワイアン・ビレッジで開催される IEEE SILICON NANOELECTRONICS WORKSHOP 2016(SNW2016) において3件の論文を発表します。
  • Tomoaki Yamada, Chihiro Matsui and Ken Takeuchi
    “Optimal Combinations of SCM Characteristics and Non-volatile Cache Algorithms for High-Performance SCM/NAND Flash Hybrid SSD”
  • Hirofumi Takishita, Takahiro Onagi and Ken Takeuchi
    “Storage Class Memory Based SSD Performance in Consideration of Error Correction Capabilities and Write/Read Latencies”
  • Takashi Inose1, Tomoko Ogura Iwasaki1, Sheyang Ning1,2, Darlene Viviani2, Monte Manning2, X. M. Henry Huang2, Thomas Rueckes2 and Ken Takeuchi1 1Chuo University, Tokyo, Japan, 2Nantero, Inc., Woburn, MA
    “Reliability Study of Carbon Nanotube Memory after Various Cycling Conditions”

  • 4/17-21 アメリカ パサデナで開催される IEEE International Reliability Physics Symposium(IRPS) において3件の論文を発表します。
  • Yoshiaki Deguchi, Tsukasa Tokutomi and Ken Takeuchi
    “System-Level Error Correction by Read-Disturb Error Model of 1Xnm TLC NAND Flash Memory for Read-Intensive Enterprise Solid-State Drives (SSDs)”
  • Tomonori Takahashi, Senju Yamazaki and Ken Takeuchi
    “Data-Retention Time Prediction of Long-term Archive SSD with Flexible-nLC NAND Flash”
  • Yoshio Nakamura, Tomoko Iwasaki and Ken Takeuchi
    “Machine Learning-Based Proactive Data Retention Error Screening in 1Xnm TLC NAND Flash”

  • 4/20-22 札幌 札幌市教育文化会館で開催される International Conference on Electronics Packaging(ICEP) において1件の論文を発表します。
  • Yusuke Sugiyama, Tomoaki Yamada, Chihiro Matsui, Takahiro Onagi and Ken Takeuchi
    “Application Dependency of 3-D Integrated Hybrid Solid-State Drive System with Through-Silicon Via Technology”
  • 16/04/01 研究室のメンバー(People)を更新しました。

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